Uniwell kola 32 sloja poluprovodničke testne ploče

Osnovne karakteristike procesa
Osnovni parametri: Napravljen od visoko TG limovog materijala, debljine približno 4,8-5,0 mm, površina je obrađena lokalnim galvanskim zlatom, a savijanje je strogo kontrolirano unutar manje od ili jednako 0,3%, ispunjavajući zahtjeve za visokopreciznu ravnost scenarija ispitivanja poluvodiča.
Precizna tehnologija: Podržava minimalni dizajn unutrašnjeg prostora od 0,17 mm, uparen sa tehnologijom otvora za čep od smole, sa minimalnim otvorom od 0,4 mm, pogodan za zahtjeve ožičenja visoke{2}}gustine, i pripada tipičnom visoko-u pcb proizvodu sa visokim omjerom debljine i promjera.

Glavna područja primjene
Ovaj tip ploče za ispitivanje poluvodiča pripada osnovnim komponentama za podršku lanca poluvodičke industrije, uglavnom podijeljenih u tri kategorije: ploča za sonde, ploča za testiranje i ploča za starenje. Osnovni scenariji aplikacije uključuju:

Funkcionalna verifikacija i proces testiranja performansi nakon pakovanja čipa osiguravaju kalibraciju parametara i dobar pregled proizvoda prije nego što čip napusti tvornicu.

Testiranje pouzdanosti starenja vrhunskih{0}}čipova, simuliranje ekstremnih radnih uslova kako bi se potvrdila dugoročna-stabilnost rada čipa
Dodatno proširenje pokriva vrhunske{0}}scenije testiranja čipova u podatkovnim centrima, AI serverima, vrhunskoj-opremi za komunikaciju, industrijsku kontrolu, zrakoplovnu i vojnu industriju, pružajući podršku za testiranje za stabilan rad čipova velike računarske snage i visoke pouzdanosti.