Opterećenje je važna komponenta opreme za ispitivanje poluvodiča, uglavnom koja se uglavnom koristi za funkcionalno provjeru testiranja i performansi pakiranih čipova kako bi se osiguralo da čipovi ispunjavaju dizajnerski standardi.
Funkcije jezgre
Učitavanje ploča povezuje čip na testirajuću opremu kroz testnu utičnicu, simulira stvarni radni scenarij za izvođenje testiranja električnih performansi na čipu i ekranima oštećene čipove.
Tehnički zahtev
Podudaranje sučelja velike brzine: šip brzih sučelja mora ispunjavati stroge zahtjeve impedancije kako bi se osigurala stabilnost prijenosa signala.
Ispitivanje pouzdanosti: Provjerite dugoročnu stabilnost čipa kroz starenje testova poput termalnog biciklizma i ubrzanog prekidača za biciklizam.
Precizna izrada: Potrebno je kontrolirati visinu jastučića za lemljenje, a ravnost zahtijeva ravnu stopu manje od 0,2%.
Scenariji aplikacija
Uglavnom se koristi u fazi završne testiranja nakon ambalaže u fabnim fabsima, kao što su kartice sonde za testiranje nepakiranih vafla, te opterećenih ploča za funkcionalnu provjeru pakiranih čipova.
Uobičajeni nedostaci u poluvodičkim pločama
Kao i svaka elektronička komponenta, torba poluvodiča takođe mogu imati strukturne nedostatke koji mogu uticati na njihov učinak prilikom pokretanja na ispitnoj klupi, što utiče na rezultate IC testiranja. Uobičajeni nedostaci opterećenja su sljedeći:
kratki spoj
otvoreni krug
Postoji oštećenja u vezi između utičnice i PCB-a
Mrežna isključenje
Kontakt Defekt utičnice
Komponentne mane
Relej defekt
Struja curenja
Da bi se osiguralo da tablica za test nema nijedan od gore navedenih oštećenja, njegove performanse treba potvrditi prije nego što se koristi na platformi za testiranje proizvodnje i potvrdila redovne inspekcije za otkrivanje neizbježnih neuspjeha životnog ciklusa.
Ako se ne može otkriti jedinstveni kvar, on će utjecati na rezultate ispitivanja IC-a: ne možete odrediti da li je rezultat neuspjelog zbog istinskog oštećenja u testiranoj komponenti ili same kvara u samom odboru.
Kako testirati se poluvodičke ploče
Poluprovodničke ploče obično se testiraju pokretanjem specifičnih dijagnostičkih programa na istom testeru poluvodiča koji će ih koristiti.
Iako je ovaj pristup uobičajen, ima nekoliko nedostataka:
Trošak testiranja su visoki jer se koriste skupi testeri za poluvodiču (obično rade 24 sata dnevno), što utječe na njihovu produktivnost.
Dugi razvojni ciklus za dijagnostičko ispitivanje
Nedovoljna dijagnostička sposobnost: Funkcionalni testovi izvedeni na poluvodičkim ispitivačima ne mogu otkriti sve potencijalne nedostatke na ploči za opterećenje.
Dugo popravak: Kada se otkriju oštećenja, tester ne može pružiti tačne poruke o grešci. Nisu utvrđene neispravne komponente i nije osiguran vodič za popravak: Profesionalni inženjeri ispitivanja moraju provesti dubinu i dugotrajne analize za popravak opterećenja
Nije moguće otkriti skrivene greške: nedostaci koji ne utječu na izravno utječu na funkcionalnost opterećenja mogu dovesti do proizvodnje ili kvarovi proizvodnje.
Da biste prevladali ta ograničenja i uštedjeli vrijeme i novac, preporučuje se korištenje određenih metoda ispitivanja i opreme za potvrđivanje performansi opterećenja prije korištenja na IC platformi za testiranje.